XRF巖屑元素分析儀 GW-4040 - 武漢敢為科技有限公司

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GW-4040XRF巖屑元素分析儀

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GW-4040 XRF巖屑元素分析儀

GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。將Ｘ射線熒光分析（ＸＲＦ）用于巖屑錄井是目前巖屑分析中最快速最便捷的技術，這項技術的獨到之處在于：能過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位．因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

測量內容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

使用用途：油氣開采過程中的巖屑錄井檢測

產品特點

性能
高性能
優選進口X射線管以及高性能探測器，確保長期的穩定性以及準確度。
快響應
相對于傳統的實驗室化驗等方式，光學檢測手段可以一秒內可以進行多次檢測。
長壽命
無需耗材，壽命最長可達5-8年，綜合使用成本更低。
便攜性
相對于傳統類的實驗室設備，我們的光學設備無需任何耗材以及輔助設備，方便在作業現場進行便攜使用。
為了更好的讓客戶在野外操作，設備還需抗震和牢固，我們首先給設備配備了拉桿式鋁合金包裝箱，讓運輸更安全。
其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工，從來穩定性牢固性更好。
準確性
儀器集成了管壓檢測、溫度檢測，實時監控腔內的真空壓力和溫度，確保檢測的精度。
真空腔內置過濾隔離裝置，仿制待測體的灰塵進入探測器探頭和射線管端子，導致污染損壞。
內置步進電機使樣品環在檢測過程中始終處于旋轉狀態，提供檢測的準確度。

技術指標

分析元素	Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
探測下限	Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
分析范圍	0.0001％-100%
能量范圍	1-30keV
采樣時間	<180s
重復性誤差	≤±1%F.S
穩定性	≤±1%F.S
輸出信號	RS-232&USB數字輸出
配件	真空泵+筆記本電腦+壓片機
外殼尺寸	355250380(長寬高)
重量	36Kg

*具體量程可能會有細微偏差。

*工作在溫度25℃和1013mbar測試數據。

技術原理

應用領域

GW-4040型XRF巖屑元素分析儀，是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發的高精度光學巖屑元素分析儀?？梢院芎玫慕鉀Q人工判斷的誤差性，以及傳統設備的不便捷性，更好了為測錄井提供原始數據。該設備小巧無輔助設備，目前在油田得到廣大客戶的使用。
產品主要用于以下場合：
● 油氣鉆井巖屑錄井；
● 物探巖石檢測等。

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快速導航

聯系方式: 地址：武漢市東湖高新區湯遜湖北路8號長城創意園知源樓B棟3層; 銷售熱線：027-88774990; 郵箱：sale@gw-laser.com

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